ISO/TR 14999-2-2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 07:31:32 浏览:9002
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【英文标准名称】:Opticsandphotonics-Interferometricmeasurementofopticalelementsandopticalsystems-Part2:Measurementandevaluationtechniques
【原文标准名称】:光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
【标准号】:ISO/TR14999-2-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC172
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:格式错误;光子学;光学元件;测量;定义;评定;测量技术;波前;不合格的材料;光学仪器;光学;光学设备;表面偏差度;尺寸选定;干涉仪
【英文主题词】:faultymaterial;opticalinstruments;dimensioning;wavefront;opticalelements;formerrors;photonics;definition;evaluations;interferometers;surfacedeviation;opticalequipment;optics;measurement;measuringtechniques;definitions
【摘要】:ThispartofISO14999givesfundamentalexplanationstointerferometricmeasurementobjects,describeshardwareaspectsofinterferometersandevaluationmethods,andgivesrecommendationsfortestreportsandcalibrationcertificates.
【中国标准分类号】:N30
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:59P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
【标准号】:ISO/TR14999-2-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC172
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:格式错误;光子学;光学元件;测量;定义;评定;测量技术;波前;不合格的材料;光学仪器;光学;光学设备;表面偏差度;尺寸选定;干涉仪
【英文主题词】:faultymaterial;opticalinstruments;dimensioning;wavefront;opticalelements;formerrors;photonics;definition;evaluations;interferometers;surfacedeviation;opticalequipment;optics;measurement;measuringtechniques;definitions
【摘要】:ThispartofISO14999givesfundamentalexplanationstointerferometricmeasurementobjects,describeshardwareaspectsofinterferometersandevaluationmethods,andgivesrecommendationsfortestreportsandcalibrationcertificates.
【中国标准分类号】:N30
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:59P.;A4
【正文语种】:英语
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